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IEEE Electron Device Letters Volume issue 2016 [doi 10.1109-LED.2016.2619978] Wong
Hiu Yung; Braga
Nelson; Mickevicius
R. Vidas -- Normally-Off GaN HFET Based on Layout and Stress Engineering.pdf
来源:百度网盘
创建时间:2016-11-26 10:57:02
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